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電子元器件冷熱沖擊試驗箱的核心定位是適配電子元器件的精密特性，模擬不同溫度快速交替環(huán)境，檢測其耐溫沖擊可靠性與潛在缺陷，是電子行業(yè)研發(fā)、質檢的核心設備。

三箱式冷熱沖擊試驗箱是一種通過 “固定樣品 + 切換氣流” 實現(xiàn)溫度沖擊的環(huán)境可靠性測試設備，核心特點是樣品全程無移動、無振動，能為精密產(chǎn)品提供更穩(wěn)定的溫變測試環(huán)境。

兩箱式冷熱沖擊試驗箱是一種常用的環(huán)境可靠性測試設備，主要用于測試材料、零部件等在快速溫度變化條件下的性能耐受性。

冷熱沖擊試驗箱適用于電子元氣件的安全性能測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等，同時通過此裝備試驗，可提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品的質量控制。

恒溫恒濕試驗箱（雙85測試）是適配雙 85 測試（85℃/85% RH）的恒溫恒濕試驗箱，核心是滿足高濕熱環(huán)境的精準控制、防結露設計與行業(yè)標準兼容，是電子、光伏、汽車等領域濕熱可靠性驗證的關鍵設備。

電子元器件恒溫恒濕箱是一種能模擬各種溫濕度環(huán)境的試驗設備，主要用于檢測電子元器件在不同氣候條件下的性能和可靠性。

是恒溫恒濕試驗箱材料老化箱通過精準控制溫度、濕度模擬各類環(huán)境工況，用于驗證產(chǎn)品環(huán)境適應性與可靠性的核心測試設備，廣泛應用于多行業(yè)質量管控與研發(fā)。

紫外線老化試驗箱是一種用于模擬自然紫外線輻射環(huán)境，對材料進行加速耐候性試驗的設備。